薄型LED背光模組
Hot Spot與入光暗區分析模擬

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對於筆記型電腦更輕更久的需求使得，薄型化LED背光模組成為高行動化的基本條件。應用LED點光源取代CCFL線光源之後，產生了不同以往小尺寸背光設計的問題與解決方案。除了以往常見的HOT SPOT現象外，也發生入光暗線的情況，透過OptisWorks的高速運算效能，與逆光追跡的模組。讓研發人員解析原因。有效預先了解問題所在進而提出解決方案。

載入系統檔案，並設定相關光學特性，包含表面特性、材質特性。

設定光源之各總特性包含能量大小、顏色、Lambertian發光方式進行光型相關定義。

製作微結構，下圖乃微結構整體畫面，有水平與垂直的微結構配置。

 

垂直的微結構	水平的微結構

建構輝度接收器(Luminance detector),並設定所需要接收器的相關尺寸及觀察位置。

為瞭解HOT SPOT現象外，另增設三個接受器(分別於中間以及兩側，兩側傾斜是
為了更清楚分辨HOT SPOT現象)，以便清楚入光暗線的情況

設定光跡數為100條，啟動模擬互動光跡觀察光跡作用情況。

啟動模擬100萬條所需之時間如下。

並透過逆追跡之功能觀察亮面與暗線。
Hot spot光線追跡作用現象可清楚觀察光線大都由導光板之下表面之v cut結構將光線打出導光板。

 

局部亮面區域放大圖：

暗面區域逆光跡追蹤結果：

將暗面區域放大，清楚觀察光跡之作用現象：

當光線射入後，如與水平之夾角角度越小，造成暗面的距離之寬度會增加。

依三角函數公式tanθ=Y/X ，X= tanθ/Y ，當Y固定時，θ越大，則X會變大，即可有效降低暗線之寬度。

以下為設定光跡數增為4000萬條，觀看結果。

整體輝度分佈
中間接受器之輝度分佈
左側接受器之輝度分佈，可明顯觀察hotspot與暗線現象
右側接受器之輝度分佈，可明顯觀察hotspot與暗線現象

 

討論：若只觀看整體模擬的結果，無法清楚了解常見的HOT SPOT現象與入光暗線
的情況。
透過增設的三個接受器(於led之入光位置附近分別於中間以及兩側傾斜角度觀測的接受器)，結合optisworks的逆光追跡功能，能更清楚發生入光處暗線的情況。
而要減少暗面的距離寬，須於導光板入光測進行結構設變處理。

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